少子寿命测试仪

少子寿命测试仪（Minority Carrier Lifetime Tester）是一种用于测量半导体材料（尤其是硅材料）中少数载流子寿命（Minority Carrier Lifetime）的关键设备。它是半导体、光伏（太阳能电池）和微电子行业中进行材料质量评估、工艺监控和产品研发的重要工具。

一、基本原理

在半导体中：

• 多数载流子：在P型硅中是空穴，在N型硅中是电子。
• 少数载流子：在P型硅中是电子，在N型硅中是空穴。

少子寿命是指少数载流子从产生到复合（消失）的平均时间。它直接反映了半导体材料的晶体质量和电学性能：

• 寿命越长 → 材料纯度高、缺陷少 → 光电转换效率高（对太阳能电池尤其重要）。
• 寿命越短 → 材料中杂质、缺陷多 → 器件性能差。

少子寿命测试仪通过特定方法（如光照或电脉冲）激发产生少数载流子，然后测量其衰减过程，从而计算出寿命值。

二、主要测试方法

三、主要应用领域

1. 光伏产业（太阳能电池）：

   • 评估硅片质量（单晶硅、多晶硅）。
   • 监控制绒、扩散、钝化等关键工艺对少子寿命的影响。
   • 预测电池最终转换效率。

2. 半导体材料研究：

   • 分析晶体生长质量。
   • 评估掺杂、退火、氧化等工艺效果。
   • 检测材料中的杂质和缺陷密度。

3. 质量控制与来料检验：

   • 工厂对采购的硅片进行快速抽检，确保材料达标。