用于光源测量和太阳能电池评估即时测量所有类型太阳模拟器的辐射光谱，例如 脉冲光和恒定光 这是一款低成本、低成本的紧凑型光谱辐射计，具有光谱一致性判断功能。 它对太阳和太阳模拟器的辐射波长实现了最佳灵敏度特性，覆盖了300~1100nm的宽测量波长范围。 这样就可以对硅基、染料敏化和有机薄膜太阳能电池的波长范围进行全面分析。 此外，它每1毫秒连续跟踪一次脉冲光的光谱变化，并通过触发的外部同步测量支持脉冲太阳模拟器测量。

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms（样品电阻率>0.3Ohmcm）SEMI标准PV9-1110

低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。

德国WEP公司的CVP21电化学C-V剖面浓度测试仪可高效、准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制。 电化学ECV剖面浓度测试仪主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。CVP21电化学C-V剖面浓度测量仪适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，例如：硅、锗、III-V族化合物半导体(如GaN)。

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。

特性 根据IEC 62804-TS标准方法 易于使用的台式设备 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块 无需气候室 不需要电池层压 测量速度：小时到天 可测量参数：分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度 太阳能电池可以通过EL等进行研究 基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持

Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。

FTIR4000傅里叶红外光谱仪利用干涉仪干涉调频的工作原理，把光源发出的光经迈克尔逊干涉仪变成干涉光，再让干涉光照射样品，接收器接收到带有样品信息的干涉光，再由计算机软件经傅立叶变换即可获得样品的光谱图。 傅里叶变换红外吸收光谱(FTIR)是研究各种分子在红外波段发射或吸收辐射规律与分子结构关系的有力工具，主要用于物质结构的分析。

接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 前金属化的接触电阻是对丝网印刷太阳能电池的总串联电阻的重要贡献。 具有合适测试结构的转移长度方法是将接触电阻与其他串联电阻效应分开的最佳方法。 然而，接触电阻可以在太阳能电池上显着变化，因此需要在成品太阳能电池上以空间分辨率测量它的方法。 TLM-SCAN产生太阳能电池的接触电阻率的映射，该太阳能电池用激光或切割锯切割成条纹。 右侧的映射显示了分辨率和可重复性，因为它显示了14次测量的相同条带。 接触电阻率测量仪 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率，手指线电阻，手指宽度和手指高度，或者测试结构。 通过在所有轴上电动化，可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头，使得TLM-SCAN 成为一种低成本，快速，高质量的四点探针贴图仪。 使操作更简单的功能： 自动位置校正以获得最佳接触质量 盖子关闭时自动启动 自动采样编号 软件探头识别 精确的导航与欢乐棒和显微镜相机 通过点击图像来探测定位和重新测量单点 一个样品上多个TLM测试图案的批处理模式 序列模式通过按一个按钮来测量接触电阻率和手指几何图形的映射

这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电阻率测试仪。自动测量晶圆电阻率,探针头方便更换,探针头由软件可识别,探针半径0.25mm,软件自动计数,软件可以再次测量单点。

太阳能电池设施产量提升和性能改进的“黄金标准”工具 LIS-R3 是一款用于硅锭、晶圆、电池和微型模块样品的先进表征工具。针对TOPCon、PERC、HJT等电池工艺，是多年研发、不断改进的结果。最近的升级包括与 24 个母线样本的兼容性、新的 SMU 和 BC 电池测量。它是主要太阳能生产商和世界领先研究机构使用的重要工具。主要应用包括流程改进、研发、流程调试和根本原因分析、质量保证和质量控制。 LIS-R3 提供 BT Imaging 专有的光致发光技术以及串联电阻成像、电致发光成像、Suns-Voc、暗和光 IV 测量、带有隐含 IV 参数的高级cell分析、cell前部和整体分离估计、QSS-PC 注入水平相关寿命、校准寿命成像等等。

FPM快速光电流扫描显微系统适用于有机,钙钛矿材料， 可轻松进行光电流与晶粒分布测量。

IPCE-R量子效率测试系统是根据IEC 60904-8所设计与研发制造的一款从事高效率太阳能电池研发、提高其材料能隙的检测工具。采用非破坏性的检测技术，可以直接量测电池样品，量测时不需要真空环境。另外，其绝佳的讯噪比与高分辨率的讯号撷取能力，可提供快速与准确的量测结果。一体式设计，操作简单、高性价比与卓越的技术支持，IPCE-R也可依客户需求与手套箱进行整合，适用于各式太阳能电池与光电探测器的研究。

LSS-55太阳光模拟器是按照国际法规IEC 60904、ASTM与JIS所研发设计的AAA等级太阳光模拟器。50 mm x 50 mm 的光斑尺寸，搭配光强衰减器，让用户可以自行调整光斑强度，快门控制时间可从0.1S—9990 Hours。另外，LSS-55也提供灵活的出光方向来符合用户的研究需求，用户可以选择标准的垂直出光方向或是水平出光方向，并与手套箱进行整合。操作简单、高性价比与卓越的技术支持，适用于各式太阳能电池，光触媒，光催化以及车用光老化研究。

以高压氙气灯为光源，用照度1SUN的光线照射测试样品，其光谱近似于地表接收到的太阳光谱（AM1.5G） 不仅限于研究、开发，亦适用于太阳能电池生产线的性能测试。

表面质量控制从未如此简单可靠 便携式接触角测量仪Ayríís摆脱了因人为干预造成测量结果不同的问题，采用了开创性的技术对润湿性进行可靠的QC检测。只需单击一次，几秒钟内即可测量水的3D接触角，根据预设的质量标准，仪器会在自动验证后显示验证通过/失败的信息。Ayríís采用了先进的3D水滴投影技术可实现自动自检，且保证每个测量结果的一致性和合理性。Ayríís是一款便携的、独立的仪器，配有易于更换的充电电池和预填充液体盒，以供生产线全天候工作。

Hoenle太阳模拟器 - SOL 灯具 HoenleSOL单元在全球范围内用于许多行业的太阳模拟，并满足例如符合IEC 60904-9的固定式太阳模拟器的要求。 在生物技术方面，Colipa 标准和 OECD 432 体外 3T3 NRU 光毒性测试明确规定了使用 Hönle SOL 单元。 提供 3 种功率分类：SOL 500、SOL 1200、SOL 2000 可集成在气候室中 辐射光谱与自然阳光相似 辐射强度取决于距离 无臭氧灯泡，使用寿命长 轻松更换灯泡

数字全息显微镜（Digital holographic microscopy，简称DHM）是数字全息技术在显微领域的应用，也被称为全息显微术。与其他显微技术相比，数字全息显微镜并不直接记录被观测物体的图像，而是记录含有被观测物体波前信息的全息图，再通过计算机对所记录的全息图进行数值重建来得到被测物体的相位和振幅（光强）信息，进而完成数字三维重构。打个形象的比方来理解数值重建这个过程，就是利用计算机算法代替传统光学显微镜中的成像透镜。 反射式数字全息显微镜DHM®系列(DHM-R1000, DHM-R2100 和 DHM-R2200) 通过收集样品表面的反射信号进行测量，因此在探测反射或部分反射的样品时使用较为理想。此型号的全息显微镜能够探测反射率低至1%的样品，因此作为光学轮廓仪广泛适用于各种样品。

本产品为稳态太阳光模拟器,提供AAA 级别的180mm x 180mm 有效光斑. 具备4 通道光谱调整滤片插槽，光谱匹配度符合GB/T 6494-2017 规定的A 级标准（350nm-1800nm）。

用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。 用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。

适用于 182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪。 MX204-8-73-q 可作为手动加载的独立工具使用，也可完全集成到自动化机器人系统中。它有 73 个测量点，能以高分辨率控制厚度、弯曲度和翘曲度。通过上游定心站，不同尺寸的晶片无需更换即可使用。配有功能强大的MX-NT 操作软件。

简便的单点测厚仪，适用于 30-200 毫米的半导体和金属材料。 MX301-AC 是一款坚固、稳定的仪器，可用于快速、简单的手动测厚。适用于各种硅片、太阳能晶片以及半导体或金属材料。完全自校准，无需测量块或基准晶片。内置 5 位数显示屏。可独立工作，也可通过串行接口与 PC 连接，从而收集多个测量数据，计算单个晶片或整批晶片的平面度（TTV）、平均值或标准偏差。

iGrapher 大型紫外直写光刻系统

用于 125 毫米、156 毫米至 230 毫米太阳能晶片的 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪。 MX152/153 是一种在线模块，适用于皮带传送的硅片。它可在自动化生产流程之间测量厚度、平面度（TTV），也可选择测量电阻率和 P/N 值。由测量模块、电子支架和控制计算机组成。测量值将通过以太网和 TCP/IP 传输到主机。

FPM快速光电流扫描显微系统适用于有机,钙钛矿材料， 可轻松进行光电流与晶粒分布测量

The dicing machine is the third-generation laser dicing machine independently designed and developed by our company. It is mainly applied to the dicing and grooving of monocrystalline silicon, polycrystalline silicon cells and silicon wafers in the solar energy industry; as well as the dicing and cutting of semiconductor substrate materials such as silicon, germanium and gallium arsenide in the electronics industry. This equipment is carefully designed by experts. Compared with traditional YAG dicing machines, the fiber laser adopted in this machine has the following advantages: better beam quality, higher speed, lower energy consumption, maintenance-free operation and smaller size. Owing to the adoption of an automatic control system in the whole unit, its simple operation and low maintenance requirement contribute to higher production efficiency of this model.

CDE　ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

L-50/L-100是稳态LED太阳模拟光源系列产品，光谱匹配度优于氙灯光源，光谱满足AM1.5 IEC 60904-9:2007/2020 Class AAA标准，寿命大于1万小时（大于10个氙灯寿命，节约成本和换灯校准时间）。 大面积LED太阳光器有光谱和长寿面优势，主要应用于钙钛矿电池、叠层电池、硅太阳能电池、有机电池、光催化、光水解、光反应、材料老化等研发测试领域

The World PV Scale Standard is recognized as an international standard for calibrating reference cells used in the characterization of solar cells and modules. To comply with the WPVS standard and the requirements of IEC 60904-2, reference cells must meet a wide range of optical, electrical, thermal and mechanical criteria and be calibrated and recalibrated in accordance with international standards. The CalLab provides WPVS reference cells for primary or secondary calibration which fully meet these specifications. WPVS reference cells from the CalLab are available with or without calibration in accordance with IEC.

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的