SunsVoc MxSinton少子寿命测试仪 SunsVoc Mx 对于糊烧的优化和过程控制来说是一台优秀的设备。开路方法表明了太阳能电池前体在结形成之后的数值。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。制造商: Sinton Instruments 商品库存单位(SKU): SunsVoc Mx下载样本电话报价数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹商品比较邮件给朋友扩散后制程控制Suns-Voc阶段对于在铝烧,再次前网燃烧之后测量晶片是理想的。这使得这些步骤的优化和监测保持电压,获得良好的欧姆接触,避免分流。 s-Voc 的强大应用通过直接探测p和n区,或者探测金属化层(如果存在),就能测量光-VOC曲线。此曲线可以显示为我们著名的太阳VOC图或以标准的光伏曲线的形式,光伏曲线可以用来表示分流的特征。整个曲线在开路状态下测量,不受串联电阻的影响。Suns-Voc系统特性非常适用于浆料烧结优化和过程控制。开路的方法指出了太阳能电池PN结形成后的上限值。•硅片台温度控制在25℃•细点电压探头•磁探针兼容性、氙灯与中性密度过滤器•可微调强度范围的高度可调后柱•显示标准的I-V曲线格式和Suns-VOC曲线•测量不受串联电阻的影响的理想晶片特性商品标签(逗号隔开) 少子寿命测试仪 (7), WCT-120 (2), Suns-Voc (1)相关商品 MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms(样品电阻率>0.3Ohmcm)SEMI标准PV9-1110电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹 MDPspot 单点少子寿命测试仪低成本桌面单点测量硅片或晶砖,用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品,无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品,高达156毫米硅砖,结果可视化的标准软件。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹 BCT-400 少子寿命测试仪Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹 Sinton BLS-1 少子寿命测量仪Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏)-13相符合。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹 MDPpro 850+少子寿命测试仪用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。 用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。25.000 (CNY)加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms(样品电阻率>0.3Ohmcm)SEMI标准PV9-1110电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
MDPspot 单点少子寿命测试仪低成本桌面单点测量硅片或晶砖,用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品,无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品,高达156毫米硅砖,结果可视化的标准软件。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
BCT-400 少子寿命测试仪Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
Sinton BLS-1 少子寿命测量仪Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏)-13相符合。电话报价加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹
MDPpro 850+少子寿命测试仪用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。 用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。25.000 (CNY)加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹