Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。 1 评论 制造商: Sinton Instruments 商品库存单位（SKU）: BLS-1 电话报价 数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 商品比较 邮件给朋友 操作简单、灵敏度高 BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅（硅锭或硅块）不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度先进的技术，这些工具允许你评估硅生长后的质量。 性能优越 非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命，符合SEMI的PV13标准；相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。 多型号选择 如果想要设备能够测量多种的表面类型（150mm直径到平滑的）请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面，请选择BCT-400. BCT400/BLS-1应用 厂商品质监控常见的测量设备，拥有广泛客户群 •测量寿命在1-5ms(豪秒）范围内的高纯度硅 •测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅 •测量多晶硅块的寿命和俘获浓度 •探测氧化硼缺陷，铁污染，和表面损害 •测试直拉硅，区熔硅，多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量 项目 内容 测量参数 少子寿命、电阻率、陷阱密度 可测量的少子寿命范围 0.1us-10ms 可测量的电阻率范围 0.5-300ohm.cm 分析模式 准稳态方法少子寿命分析 瞬态方法少子寿命分析 一般方法少子寿命分析 可施加的用于修正陷阱的偏执光范围 0-50suns 可以测量的样品的表面类型 表面为平的硅块样品（BCT-400） 表面不平整的硅块样品（BLS-I） 不平整弧度的直径可达150mm 光源光谱 白光和红外光 感应器的面积 45cm*45cm 可测量深度 3mm 商品标签(逗号隔开) 少子寿命测试仪 (6) 相关商品 MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms（样品电阻率>0.3Ohmcm）SEMI标准PV9-1110 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 MDPspot 单点少子寿命测试仪 低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 BCT-400 少子寿命测试仪 Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms（样品电阻率>0.3Ohmcm）SEMI标准PV9-1110 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
MDPspot 单点少子寿命测试仪 低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
BCT-400 少子寿命测试仪 Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
