椭偏仪（Ellipsometer）

椭偏仪是一种用于精确测量薄膜厚度、光学常数（折射率n、消光系数k）以及材料表面/界面特性的高精度光学仪器。它的核心原理是测量偏振光在样品表面反射（或透射）后，其偏振态发生的改变。

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