Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120
Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120
WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。
载流子合复寿命经过准确校准的测量方式,广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。
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Sinton Instruments 公司最初由Ron Sinton在1992年成立,起初公司名为Sinton Consulting。公司致力于开发用于晶硅太阳能电池和集成电路研发和制造的新的工具和分析技术。我们的目标是能让最先进的器件物理知识和测量技术应用于日常的研发和生产中。
我们通过提供物理严谨、简单、经济实用的测试工具和分析技术,解决研发和制造工艺控制中的实际问题。