BCT-400 少子寿命测试仪

Name: BCT-400 少子寿命测试仪
SKU: BCT-400
Availability: InStock
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Sinton BCT-400 少子寿命测量仪是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

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Manufacturer: sinton instruments

SKU: BCT-400

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BCT-400 少子寿命测试仪

产品概述

Sinton BCT-400 少子寿命测量仪

是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

BCT-400 设备将为光伏客户生产高质量太阳能级单晶硅片提供有力的质量保证手段。

产品简述：

1.用途（高频光电导），用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

1）．BCT-400主机，信号接线盒及信号线

2）．含带通滤光片的探头闪光灯

3）．安装配置有如下软件的计算机系统: Windows updates

4）．Sinton 数据采集及分析软件包

5）．12Bit 数据采集卡客户见证：

项目	内容
测量参数	少子寿命、电阻率、陷阱密度
可测量的少子寿命范围	0.1us-10ms
可测量的电阻率范围	0.5-300ohm.cm
分析模式	准稳态方法少子寿命分析瞬态方法少子寿命分析一般方法少子寿命分析
可施加的用于修正陷阱的偏执光范围	0-50suns
可以测量的样品的表面类型	表面为平的硅块样品（BCT-400）表面不平整的硅块样品（BLS-I）不平整弧度的直径可达150mm
光源光谱	白光和红外光
感应器的面积	45cm*45cm
可测量深度	3mm