New products

表面质量控制从未如此简单可靠 便携式接触角测量仪Ayríís摆脱了因人为干预造成测量结果不同的问题，采用了开创性的技术对润湿性进行可靠的QC检测。只需单击一次，几秒钟内即可测量水的3D接触角，根据预设的质量标准，仪器会在自动验证后显示验证通过/失败的信息。Ayríís采用了先进的3D水滴投影技术可实现自动自检，且保证每个测量结果的一致性和合理性。Ayríís是一款便携的、独立的仪器，配有易于更换的充电电池和预填充液体盒，以供生产线全天候工作。

TLM-SCAN+ Contact resistivity and more This compact instrument measures contact resistivity, finger line resistance, finger width, and finger height of a finished solar cell or on test structures. Motorized in all axes it is capable of creating maps of all these methods by pushing a single button. Four point probe heads for measuring the sheet resistance of thin diffused layers and resistivity of wafers make the TLM-SCAN+ a low-cost yet fast and high-quality four-point-probe mapper.

特性 根据IEC 62804-TS标准方法 易于使用的台式设备 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块 无需气候室 不需要电池层压 测量速度：小时到天 可测量参数：分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度 太阳能电池可以通过EL等进行研究 基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持

Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。

The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler (CV-Profiler, C-V-Profiler) furthermore is a very good choice to analyze or develop strategies for Photo-Electrochemical Wet Etching (PEC-Etching) of semiconductors