CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
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检测仪器置换
仪器置换，是用手头的同类仪器来置换新仪器，就是将卖旧仪器和买新仪器两个过程合并成了一个过程。
一 是同品牌内的旧仪器换新仪器
二 是多品牌置换某一品牌新仪器的业务
三 不同品牌仪器之间以旧换旧
少量二手CDE resmap178客户考虑转让
少量二手CVP21 客户考虑转让
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）
CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
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WEP电化学ECV掺杂浓度检测CVP21
德国WEP公司的CVP21电化学C-V剖面浓度测试仪可高效、准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制。 电化学ECV剖面浓度测试仪主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。CVP21电化学C-V剖面浓度测量仪适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，例如：硅、锗、III-V族化合物半导体(如GaN)。
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