电阻率测试仪
电阻率测试仪 (Resistivity Tester)是一种用于测量材料电阻率 (Resistivity)的专用仪器。电阻率是衡量材料对电流阻碍能力的固有物理属性,单位通常为欧姆·米(Ω·m)或欧姆·厘米(Ω·cm)。该设备广泛应用于半导体、光伏、冶金、材料科学和科研领域。
一、基本原理 电阻率(ρ)与材料的电阻(R)、横截面积(A)和长度(L)之间的关系由以下公式定义:
ρ = R × (A / L)
电阻率测试仪通过向样品施加已知电流,并测量产生的电压降,利用欧姆定律 (R = V/I)计算出电阻,再结合样品的几何尺寸,最终得出电阻率值。
二、主要测试方法 方法 原理 特点 四探针法 (Four-Point Probe) 使用四个等距探针接触样品表面,外侧两针通电流,内侧两针测电压。 消除接触电阻影响,精度高,适用于硅片、薄膜等平面材料。 范德堡法 (Van der Pauw) 在任意形状的薄样品四个边缘点进行测量,通过多组电流-电压测量计算电阻率和霍尔系数。 适用于不规则形状薄片,可同时测载流子浓度。 涡流法 (Eddy Current) 利用电磁感应原理,非接触式测量导电材料的电阻率。 适合在线检测、高温测量或不规则表面。 两探针法 (Two-Point Probe) 直接用两个探针测量电压和电流。 简单快捷,但包含接触电阻,精度较低,常用于粗略测量。
三、主要应用领域 半导体行业 :
测量单晶硅、多晶硅、砷化镓等半导体材料的电阻率,评估掺杂均匀性和晶体质量。 光伏产业 :
在太阳能电池生产中,检测硅片的体电阻率,确保其符合电池工艺要求(如 P 型或 N 型,特定电阻率范围)。 金属与合金 :
科研与材料开发 :
新型导电材料(如石墨烯、导电聚合物)的电学性能表征。 四、关键性能指标 测量范围 :可测电阻率的最小值到最大值(如 10⁻⁴ 到 10⁵ Ω·cm)。精度与重复性 :测量结果的准确度和一致性。探针材质与压力 :影响接触稳定性和样品损伤。自动化程度 :手动、半自动或全自动 mapping(面扫描)系统。软件功能 :数据记录、统计分析、生成报告等。五、主要厂商(举例) 德国Semitron 、美国Keithley (现为泰克Tektronix旗下):提供高精度四探针测试系统。日本DAS 、日置HIOKI :生产各类电阻率和电阻测试设备。中国 :如广州半导体 、北京东方中科 等公司也提供相关测试仪器。六、选购建议 明确被测材料类型(硅片、金属、薄膜等)和电阻率范围。 根据需求选择接触式(四探针)或非接触式(涡流)方法。 对于生产线,优先考虑自动化 mapping 系统以提高效率。 关注设备的校准服务和售后服务支持。 总结 电阻率测试仪是材料电学性能检测的“基石”设备。通过精确测量电阻率,可以有效评估材料的导电性、纯度和工艺质量,对于保证半导体和光伏产品的性能与良率至关重要。选择合适的测试方法和仪器,是实现精准质量控制的关键。
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这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电阻率测试仪。自动测量晶圆电阻率,探针头方便更换,探针头由软件可识别,探针半径0.25mm,软件自动计数,软件可以再次测量单点。
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