平板探测器

工作原理

• 直接转换平板探测器：主要由非晶硒层（a-Se）和薄膜晶体管（TFT）构成。当 X 射线入射时，非晶硒层产生电子 - 空穴对，在外加电场作用下，电子和空穴对向相反方向移动形成电流，电流在 TFT 中形成储存电荷，经读出电路转换为数字信号，进而形成数字图像。
• 间接转换平板探测器：通常由闪烁体涂层与 TFT、电荷耦合器件（CCD）或互补型金属氧化物半导体（CMOS）构成。闪烁体先将 X 射线转换为可见光，再由 TFT、CCD 或 CMOS 将可见光转换为电信号，经 A/D 转换后形成数字影像。

主要性能参数

• 量子探测效率（DQE）：反映平板探测器的灵敏度、噪声、X 线剂量和密度分辨率，是衡量探测器对不同组织密度差异分辨能力的重要指标。一般来说，间接转换平板探测器的极限 DQE 较高，而直接转换平板探测器在高空间分辨率时 DQE 表现更优。
• 空间分辨率：决定了探测器对组织细微结构的分辨能力。直接转换平板探测器的空间分辨率取决于 TFT 矩阵大小，间接转换平板探测器的空间分辨率则还受散射光控制技术的影响。

应用领域

• 医疗领域：在医学成像中广泛应用，如胸部、四肢关节、乳腺等部位的检查。胸部检查宜使用间接转换平板探测器，以获得高对比度图像；乳腺摄片等对空间分辨率要求高的检查，则多采用直接转换平板探测器。
• 工业领域：主要用于无损检测，可检测焊接质量、铸件和压力容器缺陷、锂电池内部结构等，能够与生产线对接，提高生产效率和产品良品率。