X射线光电子能谱仪 / 化学分析电子能谱仪

Nexsa XPS 系统 - 独特的相关光谱

具有无缝多技术集成的高性能 XPS
 
Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析系统是一款全自动、多技术仪器。它采用新型微焦点 X 射线源，可提供高灵敏度和高空间分辨率 XPS。此外，该系统还提供其他表面分析技术的选项：UPS、ISS 和 REELS。独特的是，还可以选择集成拉曼光谱仪，与 XPS 分析位置对齐，以获得真实的相关光谱。凭借这些功能，Nexsa 释放了半导体、2D 材料、薄膜、电池、聚合物和许多其他应用领域新见解的潜力。
• 高性能XPS
• 快速 SnapMap XPS 成像
• 深度剖析
• 可选的多技术集成
––Raman
––ISS
––UPS
––REELS
• MAGCIS 离子源可扩展深度分析功能
• 大量样品处理
• 用于仪器控制、数据处理和报告的 Avantage 软件
• 可选传输空气敏感样品的能力

ESCALAB Xi+ XPS 微探针 - 性能和多功能性

将高性能 XPS 与灵活的样品制备相结合

 
Thermo Scientific™ ESCALAB™ Xi+ XPS 微探针是我们著名的 ESCALAB 产品线的最新开发产品。 ESCALAB Xi+ 被设计为一个可扩展的多技术平台，具有无与伦比的灵活性和可配置性。 系统控制、数据采集、处理和 报告由强大的无缝集成 Thermo Scientific™ Avantage™ XPS 软件
• 高分辨率、定量XPS 成像，用于最小特征分析
• 高性能光谱 • 用于深度分析的离子源
• 用于绝缘子分析的洪水源
• 标准离子散射光谱 (ISS)
• 反射电子能量损失光谱（REELS）作为标准
• 可选的附加技术：
––紫外光电子能谱（UPS）
––俄歇电子能谱 (AES)
––微量分析（EDS）
• 可选MAGCIS 双模式离子源
• 全系列样品制备选项：
––样品加热和冷却
—断裂阶段
––惰性转移
 
K-Alpha XPS 系统 - 专为提高生产力而设计
制定 XPS 表面分析常规
 
Thermo Scientific™ K-Alpha™ 光谱仪满足研究和常规 XPS 分析的要求。高性能系统硬件使 K-Alpha 光谱仪非常适合在繁忙的研发环境中创建世界一流的数据。直观的工作流程使得将 K-Alpha 光谱仪放入多用户共享设施中成为可能，从而允许各种技能水平的操作员将表面分析添加到其材料分析产品组合中。
 
• 高性能、功能齐全的XPS 系统
• 独特的样品查看功能能够促进快速 特征识别
• 化学态成像
• 大量样品处理
• 可变微焦点X射线源以匹配 分析区域特征
• 用于深度分析的离子源
• 用于绝缘子分析的低能量洪水源
​• 内置自校准标准