PID测试系统 PID效应（potential Induced Degradation）全称电势诱导衰减，PID测试标准引自于IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules，测试要求是将组件置于一定的温度、湿度环境，将组件内部导电体与高压电源的一个级连接在一起，组件外导电体与高压电源的另一个极连接。 0.000 (CNY) Qty: Add to cart Custom wishlist OK Add to wishlist Add to compare list Email a friend ■ PID效应（potential Induced Degradation）全称电势诱导衰减，PID测试标准引自于IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules，测试要求是将组件置于一定的温度、湿度环境，将组件内部导电体与高压电源的一个级连接在一起，组件外导电体与高压电源的另一个极连接。 性能参数Performance parameter 输入电源 AC 220V±10%50HZ 输出电压 DC -2500V to +2500V (连续可调) 电压分辨率 1V 电压精度 1000V 1500V 2000V 连续输出500小时内电压波动≤2% 最大额定电流 250微安/通道 电流精度 2微安+1%量程 漏电流分辨率 0.01uA 保护装置 过流、过压、过温、短路保护 冷却 风扇强制冷却
