Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。 1 评论 制造商: Sinton Instruments 商品库存单位（SKU）: WCT-120 下载样本 电话报价 数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 商品比较 邮件给朋友 项目 内容 测量参数 少子寿命、电阻率、发射极饱和电流密度、陷阱浓度、标准太阳下Voc 寿命测量范围 100nm-10ms 测量（分析）模式 QSSPC，瞬态和归一化寿命分析 电阻率测量范围 3-600（未掺杂）Ohms/sq 可得到的偏压范围 0-50suns 可得到的光谱 白光和红外光 感应范围 直径40mm 样品尺寸，标准配置 标准直径：40-230mm 硅片厚度范围 10-2000um 商品标签(逗号隔开) 少子寿命测试仪 (6) , WCT-120 (1) 相关商品 MDPpro 850+硅锭、硅砖少子寿命测试仪 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。特征直拉硅单晶硅锭中的滑移线寿命范围20ns至100ms（样品电阻率>0.3Ohmcm）SEMI标准PV9-1110 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 MDPspot 单点少子寿命测试仪 低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 Sinton离线晶片少子寿命测试仪 WCT-120 WCT仪器展示Sinton独特的测量和分析技术，包括半标准准稳态光电导系数（QSSPC)测量方法，该方法由Sinton公司在1994年研发。 载流子合复寿命经过准确校准的测量方式，广泛应用于太阳能单晶和多晶硅片。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 BCT-400 少子寿命测试仪 Sinton BCT-400 少子寿命测量仪 是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 Sinton BLS-1 少子寿命测量仪 Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 MDPpro 850+少子寿命测试仪 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。 用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。 25.000 (CNY) 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
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