MX 152/153 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪用于 125 毫米、156 毫米至 230 毫米太阳能晶片的 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪。 MX152/153 是一种在线模块，适用于皮带传送的硅片。它可在自动化生产流程之间测量厚度、平面度（TTV），也可选择测量电阻率和 P/N 值。由测量模块、电子支架和控制计算机组成。测量值将通过以太网和 TCP/IP 传输到主机。制造商: E+H Metrology 电话报价数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹商品比较邮件给朋友应用用于 125 毫米、156 毫米至 230 毫米太阳能晶片的 OEM 集成式厚度和电阻率测量仪。MX152/153 是一种在线模块，适用于皮带传送的硅片。它可在自动化生产流程之间测量厚度、平面度（TTV），也可选择测量电阻率和 P/N 值。由测量模块、电子支架和控制计算机组成。测量值将通过以太网和 TCP/IP 传输到主机。测量类型厚度 平整度（TTV） 电阻率 P/N 注释特点晶片尺寸125x125 毫米和 156x156 毫米，最大 230 毫米精度±0.5µm分辨率0.1 微米厚度范围100 - 300 微米软件EHMaster商品标签(逗号隔开) 厚度 (3), 电阻率 (3), 平整度（TTV (1)
