博客文章 '2025' '十二月'

在太阳能电池性能的检测与维护中，探针作为测试机的核心部件，扮演着举足轻重的角色。本文将详细阐述太阳能电池测试机探针的种类、使用方法以及工作原理，旨在帮助读者更好地理解和应用这一关键技术。

少子寿命测试仪

1.是否需要2D或者3D 相机辅助探针定位？ 有相机可以自动定位和下针节约大量的工程师时间，我们的90%客户会选择包含相机的定位的功能 2.要测的栅线间距多少？ 我们提供的探头范围如下 低于1.0mm按客户要求定制固定间距探头。其它范围间距探头如下： 1.0-1.2mm 1.2-1.8mm 1.8-2.4mm 2.4-3.0mm 3.是否需要四探针功能？ 如果客户已经有四探针了，我们一般不建议客户购买，用四探针功能需要更换探头和测试台，大概需要15分钟时间。另外需要增加8000欧元的成本。

半导体可靠性测试中使用的TLM（传输线测量）法，是一种专门用于精确表征和监控金属电极与半导体材料之间“欧姆接触”质量的关键技术。它的核心是通过测量一组不同间距的接触电阻，来分离并计算出“接触电阻”和半导体材料的“方块电阻”，从而判断接触性能是否退化。 这对于可靠性测试至关重要，因为欧姆接触的劣化（如金属扩散、界面反应）是器件长期失效的主要原因之一。

客户有一台二手 CDE 178闲置 状态良好 ResMap Four Point Probe Manual load “baby” Wafer size: 2”-8” Manual load Max round sample: 8.2” φ , Max square sample:5.8”x5.8” Maximum throughput: 1min/wafer, (49pints) MeasurementRange - 1m to 10M Accuracy 0.5% 0.02% static, 0.1% dynamic Measurement unit size: 12”W x 10”H x 18”D Full functional unit Included: Measurement unit, computer, Keyboard/mouse,monitor. OEM 代工型號說明 The CDE ResMap 178 is a precision instrument for measuring the sheet resistivity of a conductive media (metal and semiconductor applications). It is a table top model with manual wafer load and can measure wafer sizes from 2” to 8”. It has become an industry standard for cost effective resistivity measurement. The CDE ResMap 178 has an accuracy of 0.5% and a repeatability of 0.02% static and 0.1% dynamic. The CDE ResMap 178 has a resistivity range of 2mOhm/Square to 5MOhm/square. The CDE ResMap 178 has a maximum throughput of 1 minute per wafer (49 sites).

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光纤接头以及设计