表面光电压光谱(SPS/SPV)

表面光电压光谱(SPS/SPV)是一种经过验证的技术,用于分析电光材料中的体积、界面及表面相关性质。传统上,商业光伏解决方案通常限于专业实验室,且通常限于小众应用。 Freiberg Instruments的HR-SPS平台通过高分辨率、无接触分析重新定义了材料表征,几乎适用于任何电光材料——从粉末样品、纳米颗粒结构到300毫米硅晶圆。该系统既适用于生产,也适用于科研,能够快速、精确地评估制造和材料创新。 HR-SPS的应用涵盖半导体(硅、碳化硅及宽禁带半导体如氧化镓和金刚石)、光催化剂(氧化铜和钛氧化物)中的电荷动力学分析等领域,为光伏分析带来了无与伦比的灵活性和效率。
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支持对薄层和表面的先进材料研究:无破坏、柔韧且快速

  • 由于先进的电子检测系统,高度灵敏

  • 定制激光和光学设备,支持多达4个不同波长

  • 电荷分离过程和电子跃迁(缺陷)的研究

 

特点与优势

355–1550 nm

可用波长

10 纳秒

时间分辨率

0.1毫米

空间分辨率

< 5分钟

8英寸晶圆的通量

  • 灵敏度:亚毫伏灵敏度,信号高度分辨率超过3个数量级

  • 测量速度:150毫米晶圆,分辨率1毫米,测量时间<5分钟

  • 时间分辨率:10纳秒至100毫秒

  • 光学头:最多集成4个光源于光学头或灯具,用于安装外部激光器——内置抑制杂散光

  • 可靠性:模块化且紧凑的台式仪器,保证高可靠性和99%>正常运行时间

用于研发和生产监控的灵活映射工具

HR-SPSmap产品平台基于广受赞誉的MDPmap系列的成熟基础。这款紧凑型、桌面、非接触式电气表征工具专为离线生产控制和研发应用设计。它测量覆盖较宽的注入范围的表面光电压(SPV),同时兼容稳态和短脉冲激发。通过自动样品识别和参数设置,它能够轻松适应各种样品,包括不同加工阶段的外延层和晶圆,从生长材料到全制器件。

卓越的灵活性和先进的功能

HR-SPSmap的一个突出优势是其卓越的灵活性。系统配备固定能量激发源,支持测量头内集成最多四枚激光器。该能力促进了从极低到高注入水平的广泛范围内的注射水平依赖性光伏测量,并支持使用不同激光波长进行深度剖面。系统还包含偏置灯功能,以增强测量选项。

此外,HR-SPSmap支持自定义计算和映射配置,并能够导出主要数据以供详细外部分析。对于标准计量任务,平台提供预定义的配方系统,允许按一个按钮完成常规测量。

释放精准与适应性

凭借其先进的功能和用户友好的设计,HR-SPS是研究人员和生产团队寻求高精度表面光电压测量的理想解决方案。无论是研发创新还是可靠的生产监控,该平台都重新定义了电气表征的灵活性与效率。

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