182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪 适用于 182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪。 MX204-8-73-q 可作为手动加载的独立工具使用，也可完全集成到自动化机器人系统中。它有 73 个测量点，能以高分辨率控制厚度、弯曲度和翘曲度。通过上游定心站，不同尺寸的晶片无需更换即可使用。配有功能强大的MX-NT 操作软件。 制造商: E+H Metrology 库存信息: 有货 商品库存单位（SKU）: MX 204-8-73-q 电话报价 数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 商品比较 邮件给朋友 适用于 182 毫米和 210 毫米太阳能晶片的自动⼏何测量仪。 MX204-8-73-q 可作为手动加载的独立工具使用，也可完全集成到自动化机器人系统中。它有 73 个测量点，能以高分辨率控制厚度、弯曲度和翘曲度。通过上游定心站，不同尺寸的晶片无需更换即可使用。配有功能强大的MX-NT 操作软件。 测量类型 厚度 平整度（TTV） 弯曲度 翘曲度 SORI 特点 晶片直径 182 毫米、210 毫米 厚度精度 ±0.5 µm 分辨率 75nm 厚度范围 200 - 600 µm 自动晶片⼏何测量仪 是 软件 MXNT 商品标签(逗号隔开) 厚度 (3) , 平整度（TTV） (2) , 弯曲度 (1) , 翘曲度 (1) 相关商品 单点测厚仪MX 3012-AC 简便的单点测厚仪，适用于 75-300mm 的半导体和金属材料。 MX301-AC 是一款坚固、稳定的仪器，可用于快速、简单的手动测厚。适用于各种硅片、太阳能晶片以及半导体或金属材料。完全自校准，无需测量块或基准晶片。内置 5 位数显示屏。可独立工作，也可通过串行接口与 PC 连接，从而收集多个测量数据，计算单个晶片或整批晶片的平面度（TTV）、平均值或标准偏差。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 用于 300-450 毫米硅晶片的高分辨率厚度和平面度（TTV）测量仪 用于 300-450 毫米硅晶片的高分辨率厚度和平面度（TTV）测量仪。 几秒钟内即可轻松适应不同的厚度范围。可集成到机械分选⼿机系统中。 MX1018 非常适合厚度和平面度 (TTV) 的研发、工艺鉴定和工艺控制。 一对电容式传感器对每个晶片上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，这些轮廓包括数百个局部厚度值。如果您的应用需要，可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖率。配有功能强大的MX-NT 操作软件。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
单点测厚仪MX 3012-AC 简便的单点测厚仪，适用于 75-300mm 的半导体和金属材料。 MX301-AC 是一款坚固、稳定的仪器，可用于快速、简单的手动测厚。适用于各种硅片、太阳能晶片以及半导体或金属材料。完全自校准，无需测量块或基准晶片。内置 5 位数显示屏。可独立工作，也可通过串行接口与 PC 连接，从而收集多个测量数据，计算单个晶片或整批晶片的平面度（TTV）、平均值或标准偏差。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
用于 300-450 毫米硅晶片的高分辨率厚度和平面度（TTV）测量仪 用于 300-450 毫米硅晶片的高分辨率厚度和平面度（TTV）测量仪。 几秒钟内即可轻松适应不同的厚度范围。可集成到机械分选⼿机系统中。 MX1018 非常适合厚度和平面度 (TTV) 的研发、工艺鉴定和工艺控制。 一对电容式传感器对每个晶片上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，这些轮廓包括数百个局部厚度值。如果您的应用需要，可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖率。配有功能强大的MX-NT 操作软件。 电话报价 加入购物车 商品比较 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹
