非接触式晶圆电阻率，厚度和P/N测量仪非接触式晶圆电阻率，厚度和P/N测量仪 MX60x 系列用来测量硅片和其他材料的电阻率或表面电阻。商品库存单位（SKU）: MX60x 0.000 (CNY) 数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成加入收藏夹商品比较邮件给朋友非接触式晶圆电阻率，厚度和P/N测量仪MX60x 系列用来测量硅片和其他材料的电阻率或表面电阻。应用：晶圆生产回收R&D在工艺控制方面厚度TTV电阻率/表面电阻RRV掺杂物低电阻率：计量器型号晶圆尺寸电阻率范围厚度范围MX 604 / MX 604-Bsilicon blocks0.25 - 25 Ohm*cm MX 604-S2" - 8"0.1 - 50 Ohm/square200 - 900µmMX 604-ST125x125, 156x156mm2"-6"0.06 - 30 Ohm*cm60 - 300µmMX 6086", 8"0.001 - 200 Ohm*cm500 - 800µmMX 608-q125x125, 156x156mm0.1 - 50 Ohm*cm150 - 350µmMX 60128", 12"0.001 - 200 Ohm*cm600 - 900µm高电阻率：计量器型号晶圆尺寸电阻率范围厚度范围MX 601up to 6"5E4 to 5E9 Ohm*cm350 - 650µmMX 60102", 3", 4"2E5 to 2E9 Ohm*cm300 - 600µm商品标签(逗号隔开) 厚度 (4), 电阻率 (4), P/N测量仪 (1)
