非接触式深度/高度测量显微镜 Hisomet DH2 是一款基于光学对焦探测系统的非接触式深度/高度测量显微镜。它通过在观察测量点表面的同时，进行精确对焦来实现high精度测量。 电话报价 数量: 加入购物车 wishlist.addcustomwishlist 完成 加入收藏夹 商品比较 邮件给朋友 Hisomet DH2 是一款基于光学对焦探测系统的非接触式深度/高度测量显微镜。它通过在观察测量点表面的同时，进行精确对焦来实现高精度测量。 关键特性与规格 根据您提供的资料，其主要特点和技术规格如下： 特性分类 描述 核心原理 光学对焦探测系统，通过物镜的垂直移动来定位焦点位置。 测量模式 非接触式，完全避免了对样品造成压痕、划伤等物理损伤。 Z轴测量范围 25毫米 测量单位/分辨率 数字指示器，最小读数为 0.1微米 对焦指示系统 精确对焦指示器，内置黑白指数标线。操作员只需通过目镜观察，将分裂的两半标线重合，即表示对焦完成。 观测能力 在测量的同时，可以实时观察测量点的表面形貌。 主要应用 测量高度、深度、台阶、薄膜厚度等。特别适用于电子元器件和高精度加工零件。 工作原理简述 放置样品：将待测样品放置在显微镜载物台上。 寻找焦点：操作员通过目镜观察，并旋转微调旋钮控制物镜在Z轴方向上下移动。 对焦判断：当样品表面处于焦点位置时，目镜中分裂的指数标线会重合为一个完整的图形。 读数记录：此时，高精度的数字指示器会记录下当前的Z轴坐标值。 重复测量：将焦点分别对准待测结构的顶部和底部，两次读数的差值即为高度或深度值。 优势与应用场景分析 主要优势： 无损测量：对软质、易变形、高光亮表面等无法接触测量的样品是理想选择。 高精度：0.1µm的分辨率足以满足绝大多数精密制造领域的检测需求。 直观易用：结合视觉观察和对焦指示，操作简单，结果可靠。 功能专注：专注于Z轴尺寸测量，在特定应用中比大型影像测量仪更高效、成本更低。 典型应用行业与对象： 半导体与电子：IC芯片的焊球高度、引线框架的台阶高度、PCB板的铜厚、封装体厚度。 精密机械加工：微小孔深、沟槽深度、垫片厚度、刀具的刃高。 材料科学：薄膜、涂层的厚度测量。 汽车工业：精密喷嘴、阀座的深度尺寸检测。
